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公告主旨 【公告】115年度深美國小資優鑑定初選注意事項暨考場分配圖
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公告內容

一、考試當日上午8:50-9:15開放深美國小警衛室玻璃門讓參與鑑定的孩子入場,請早到的孩子及家長在警衛室外空地稍加等候。

二、報到流程:

  1. 試務人員檢查應試用品(2B鉛筆、橡皮擦、鑑定證等)
  2. 請應試學生進行簽到與身分核查(請攜帶身分證明文件,如健保卡等有身分證字號與出生年月日之證件),確認無誤後進入視聽教室等候。(鑑定證請於應考結束後帶回保管,進入複試將再次使用)
  3. 完成簽到後,請孩子攜帶應試用品依試務人員指示,進入視聽教室等候進入考場,準備參加初選鑑定。(鑑定證請事前於系統下載列印)

三、為維護應試環境品質,孩子進入校園後,請家長先行離開學校,待11:15以後再行返抵學校接送孩子。

        ※請家長留意,實際離場時間將視實際狀況進行調整,請家長準時到校等待避免孩子久候。

四、其餘相關事宜及細節,請詳閱附件【115年度基隆市國小一般智能資賦優異初選評量注意事項】,也可邀請孩子共讀【115資優鑑定初選說明】簡報了解當日注意事項。

五、考場座位圖請詳閱附件【115資優鑑定初選座位圖】。

    115資優鑑定初選座位圖 - 試場一 (鑑定編號412001~412021)

    115資優鑑定初選座位圖 - 試場二 (鑑定編號412022~412042)

    115資優鑑定初選座位圖 - 試場三 (鑑定編號414001~414018)

六、鑑定證編號查詢詳閱附件【115資優鑑定初選鑑定證編號】或鑑定證上之鑑定證號碼。

七、當日本校資源中心(共讀站)不開放,停車場僅開放試務人員停放。

八、如有疑問請撥打學校電話:(02)2465-4821轉41找資優組李老師。

相關附件
  • 01.115年度基隆市國小一般智能資賦優異初選評量注意事項PDF
  • 02.115資優鑑定初選座位圖-試場一三PDF
  • 03.115_資優鑑定初選說明可與孩子共同閱讀PDF
  • 04.115資優鑑定初選鑑定證編號PDF